特許

「基板洗浄装置及び基板洗浄方法」 高東智佳子、宇野恵、尾形奨一郎、濱田聡美、福間剛士 2017年10月4日(特願2017-194095)
「液中原子間力顕微鏡」 福間剛士、宮澤佳甫 平成27年8月28日(特願2015-169504)
「走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡」 浅川雅、福間剛士、小林大貴 平成26年2月21日出願(特願2014-031312)
「液中電位計測技術を用いた金属の耐食性評価方法及び評価装置」 本棒享子、大橋健也、池田光晴、福間剛士、小林成貴、尾形奨一郎 平成25年7月22日PCT出願(PCT/JP2013/069728)
「信号検出回路及び走査型プローブ顕微鏡」 福間剛士、宮田一輝 平成25年3月28日出願(特願2013-070575)
平成26年3月4日PCT出願(PCT/JP2014/001198)
平成28年10月21日 特許第6025082号
“Signal Detection Circuit and Scanning Probe Microscope” T. Fukuma, K. Miyata January 3, 2017 No. US 9535088 B2
「密閉型AFMセル」 福間剛士、淺川雅、片桐由智 平成23年11月15日出願(特願2011-249451)
平成24年11月15日PCT出願(PCT/JP2012/007326)
「電位計測装置、及び原子間力顕微鏡」 福間剛士、小林成貴 平成23年9月12日出願(特願2011-198811)
平成24年9月12日PCT出願(PCT/JP2012/005773)
平成27年5月1日登録 特許第5737640号
“Potential Measurement Device and Atomic Force Microscope” T. Fukuma, N. kobayashi September 16, 2014 No. US 8839461 B2
「液中電位計測装置、及び、原子間力顕微鏡」 小林成貴、福間剛士、浅川雅 平成22年11月5日出願(特願2010-248744)
平成23年7月29日PCT出願(PCT/JP2011/004325)
平成26年8月15日登録 特許第5594795号
“In-Liquid Potential Measurement Device and Atomic Force Microscope” T. Fukuma, N. kobayashi, H. Asakawa April 8, 2014 No. US 8695108 B2
「カンチレバー励振装置及び走査型プローブ顕微鏡」 淺川雅、福間剛士 平成21年8月6日出願(特願2009-183723)
平成22年8月6日PCT出願(PCT/JP2010/004973)
平成26年8月1日登録 特許第5585965号
“Cantilever Excitation Device And Scanning Probe Microscope” H. Asakawa and T. Fukuma August 6, 2013 No. US 8505111 B2
July 26, 2017 European patent No. 2463665
「走査型プローブ顕微鏡」 福間剛士、植田泰仁 平成21年2月2日出願(特願2009-021675)
平成22年1月14日PCT出願(PCT/JP2010/000164)
平成25年6月7日登録 特許第5283089号
“Scanning Probe Microscope” T. Fukuma and Y. Ueda December 25, 2012 No. US 8341760 B2
「走査型プローブ顕微鏡」 福間剛士、三谷悠士 平成20年8月28日出願(特願2008-219456)
平成21年7月16日PCT出願(PCT/JP2009/003365)
平成26年5月23日登録 特許第5545214号
“Scanning Type Probe Microscope” T. Fukuma and Y. Mitani February 26, 2013 No. US 8387159 B2
January 26, 2016 Korean Patent No.: 10-1590665
「走査型プローブ顕微鏡用のスキャナ装置」 福間剛士、安藤敏夫、岡崎康孝 平成20年6月4日出願(特願2008-147041)
平成21年5月29日PCT出願(PCT/JP2009/002381)
平成25年5月17日登録 特許第5268008号
“Scanner Device For Scanning Probe Microscope” T. Fukuma, T. Ando, Y. Okazaki July 10, 2012 No. US 8217367 B2
「高周波微小振動測定装置」 福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美 平成18年2月3日登録 特許第3764914号
「物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡」 福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美 平成15年3月26日出願(特願2003-085746)