| 「基板洗浄装置及び基板洗浄方法」 | 高東智佳子、宇野恵、尾形奨一郎、濱田聡美、福間剛士 | 2017年10月4日（特願2017-194095） | |
| 「液中原子間力顕微鏡」 | 福間剛士、宮澤佳甫 | 平成27年8月28日(特願2015-169504) | |
| 「走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡」 | 浅川雅、福間剛士、小林大貴 | 平成26年2月21日出願（特願2014-031312) | |
| 「液中電位計測技術を用いた金属の耐食性評価方法及び評価装置」 | 本棒享子、大橋健也、池田光晴、福間剛士、小林成貴、尾形奨一郎 | 平成25年7月22日PCT出願（PCT/JP2013/069728) | |
| 「信号検出回路及び走査型プローブ顕微鏡」 | 福間剛士、宮田一輝 | 平成25年3月28日出願（特願2013-070575) 平成26年3月4日PCT出願(PCT/JP2014/001198) |
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| 平成28年10月21日 | 特許第6025082号 | ||
| “Signal Detection Circuit and Scanning Probe Microscope” | T. Fukuma, K. Miyata | January 3, 2017 | No. US 9535088 B2 |
| 「密閉型AFMセル」 | 福間剛士、淺川雅、片桐由智 | 平成23年11月15日出願（特願2011-249451） 平成24年11月15日PCT出願（PCT/JP2012/007326) |
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| 「電位計測装置、及び原子間力顕微鏡」 | 福間剛士、小林成貴 | 平成23年9月12日出願（特願2011-198811) 平成24年9月12日PCT出願（PCT/JP2012/005773) |
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| 平成27年5月1日登録 | 特許第5737640号 | ||
| “Potential Measurement Device and Atomic Force Microscope” | T. Fukuma, N. kobayashi | September 16, 2014 | No. US 8839461 B2 |
| 「液中電位計測装置、及び、原子間力顕微鏡」 | 小林成貴、福間剛士、浅川雅 | 平成22年11月5日出願（特願2010-248744） 平成23年7月29日PCT出願（PCT/JP2011/004325) |
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| 平成26年8月15日登録 | 特許第5594795号 | ||
| “In-Liquid Potential Measurement Device and Atomic Force Microscope” | T. Fukuma, N. kobayashi, H. Asakawa | April 8, 2014 | No. US 8695108 B2 |
| 「カンチレバー励振装置及び走査型プローブ顕微鏡」 | 淺川雅、福間剛士 | 平成21年8月6日出願（特願2009-183723） 平成22年8月6日PCT出願（PCT/JP2010/004973) |
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| 平成26年8月1日登録 | 特許第5585965号 | ||
| “Cantilever Excitation Device And Scanning Probe Microscope” | H. Asakawa and T. Fukuma | August 6, 2013 | No. US 8505111 B2 |
| July 26, 2017 | European patent No. 2463665 | ||
| 「走査型プローブ顕微鏡」 | 福間剛士、植田泰仁 | 平成21年2月2日出願（特願2009-021675） 平成22年1月14日PCT出願（PCT/JP2010/000164） |
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| 平成25年6月7日登録 | 特許第5283089号 | ||
| “Scanning Probe Microscope” | T. Fukuma and Y. Ueda | December 25, 2012 | No. US 8341760 B2 |
| January 3, 2018 | European patent No. 2392930 | ||
| 「走査型プローブ顕微鏡」 | 福間剛士、三谷悠士 | 平成20年8月28日出願（特願2008-219456） 平成21年7月16日PCT出願（PCT/JP2009/003365） |
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| 平成26年5月23日登録 | 特許第5545214号 | ||
| “Scanning Type Probe Microscope” | T. Fukuma and Y. Mitani | February 26, 2013 | No. US 8387159 B2 |
| January 26, 2016 | Korean Patent No.: 10-1590665 | ||
| 「走査型プローブ顕微鏡用のスキャナ装置」 | 福間剛士、安藤敏夫、岡崎康孝 | 平成20年6月4日出願（特願2008-147041） 平成21年5月29日PCT出願（PCT/JP2009/002381) |
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| 平成25年5月17日登録 | 特許第5268008号 | ||
| “Scanner Device For Scanning Probe Microscope” | T. Fukuma, T. Ando, Y. Okazaki | July 10, 2012 | No. US 8217367 B2 |
| 「高周波微小振動測定装置」 | 福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美 | 平成18年2月3日登録 | 特許第3764917号 |
| 「物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡」 | 福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美 | 平成15年3月26日出願（特願2003-085746） | |