特許

  1. 「走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた細胞表面の観察方法」、 福間剛士、市川壮彦
    • 2019年11月1日  特願2019-199540
  2. 「基板洗浄装置及び基板洗浄方法」、 高東智佳子、宇野恵、尾形奨一郎、濱田聡美、福間剛士
    • 2017年10月4日  特願2017-194095
  3. 「液中原子間力顕微鏡」、 福間剛士、宮澤佳甫
    • 2015年8月28日  特願2015-169504
    • 2020年4月16日 日本国 特許第6692088号
  4. 「走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡」、浅川雅、福間剛士、小林大貴
    • 2014年2月21日  特願2014-031312
    • 2017年11月17日  日本国 特許第6241999号
  5. 「金属の耐食性評価方法、金属材料の耐食性評価装置、金属材料の組成予測方法、金属材料の組成予測装置」、 本棒享子、大橋健也、伊藤将宏、池田光晴、福間剛士、小林成貴、尾形奨一郎
    • 2013年7月22日  特願2015-528014
    • 2013年7月22日  PCT/JP2013/069728
    • 2017年2月24日  日本国 特許第6097832号
    • 2019年2月26日  US10215686
  6. 「信号検出回路及び走査型プローブ顕微鏡」、 福間剛士、宮田一輝
    • 2014年3月4日  特願2015-508003
    • 2014年3月4日  PCT/JP2014/001198
    • 2016年10月21日  日本国 特許第6025082号
    • 2017年1月3日  US9535088
  7. 「密閉型AFMセル」、 福間剛士、淺川雅、片桐由智
    • 2012年11月15日 特願2013-544136
    • 2012年11月15日 PCT/JP2012/007326
    • 2015年8月12日 日本国 特許第5761675号
    • 2015年8月18日 US0110093
    • 2019年9月18日 EP2781925
  8. 「電位計測装置、及び原子間力顕微鏡」、 福間剛士、小林成貴
    • 2012年9月12日 特願2013-533501
    • 2012年9月12日 PCT/JP2011/004325
    • 2014年9月16日 US8839461
    • 2014年8月15日 日本国 特許5737640
    • 2019年6月19日 EP2757380
  9. 「液中電位計測装置、及び、原子間力顕微鏡」、 福間剛士、小林成貴、浅川雅
    • 2011年1月29日 特願2012-541707
    • 2011年1月29日 PCT/JP2011/004325
    • 2014年8月15日  日本国 特許第5594795号
    • 2014年4月8日 US8695108
  10. 「カンチレバー励振装置及び走査型プローブ顕微鏡」、 淺川雅、福間剛士
    • 2010年8月6日  特願2011-525807
    • 2010年8月6日  PCT/JP2010/004973
    • 2014年8月1日  日本国 特許第5585965号
    • 2013年8月6日  US8505111
    • 2017年7月26日 EP2463665
    • 2017年7月26日  DE60 2010 043937.2
    • 2017年7月26日  TR 2463605
  11. 「走査型プローブ顕微鏡」、 福間剛士、植田泰仁
    • 2010年1月2日  特願2010-548389
    • 2010年1月14日  PCT/JP2010/000164
    • 2013年7月7日  日本国 特許第5283089号
    • 2012年12月25日  US8341760
    • 2018年1月3日  EP2392930
    • 2018年1月3日  DE60 2010 047778.9
    • 2018年1月3日  GB 2392930
  12. 「走査型プローブ顕微鏡」、 福間剛士、三谷悠士
    • 2009年7月16日 特願2010-526510
    • 2009年7月16日 PCT/JP2009/003365
    • 2014年5月23日  日本国 特許第5545214号
    • 2013年2月26日  US8387159
    • 2016年1月26日  Korean Patent No.: 10-1590665
    • 2020年1月22日  European patent No. 2325657
  13. 「走査型プローブ顕微鏡用のスキャナ装置」、 福間剛士、安藤敏夫、岡崎康孝
    • 2009年5月29日 特願2010-515753
    • 2009年5月29日 PCT/JP2009/002381
    • 2013年5月17日  日本国 特許第5268008号
    • 2012年7月10日  US8217367
    • 2013年10月15日  CH701011
  14. 「高周波微小振動測定装置」、 福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美
    • 2006年2月3日  日本国 特許第3764917号
  15. 「物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡」、 福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美
    • 2003年3月26日  特願2003-085746