特許

「走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた細胞表面の観察方法」、福間剛士、市川壮彦
- 2019年11月1日特願2019-199540
- 2023年9月21日特許第7352951号
「基板洗浄装置及び基板洗浄方法」、高東智佳子、宇野恵、尾形奨一郎、濱田聡美、福間剛士
- 2017年10月4日特願2017-194095
- 2021年8月5日　特許第6924993号
「液中原子間力顕微鏡」、福間剛士、宮澤佳甫
- 2015年8月28日特願2015-169504
- 2020年4月16日　日本国　特許第6692088号
「走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡」、浅川雅、福間剛士、小林大貴
- 2014年2月21日特願2014-031312
- 2017年11月17日日本国　特許第6241999号
「金属の耐食性評価方法、金属材料の耐食性評価装置、金属材料の組成予測方法、金属材料の組成予測装置」、本棒享子、大橋健也、伊藤将宏、池田光晴、福間剛士、小林成貴、尾形奨一郎
- 2013年7月22日特願2015-528014
- 2013年7月22日 PCT/JP2013/069728
- 2017年2月24日日本国　特許第6097832号
- 2019年2月26日 US10215686
「信号検出回路及び走査型プローブ顕微鏡」、福間剛士、宮田一輝
- 2014年3月4日特願2015-508003
- 2014年3月4日 PCT/JP2014/001198
- 2016年10月21日日本国　特許第6025082号
- 2017年1月3日 US9535088
「密閉型ＡＦＭセル」、福間剛士、淺川雅、片桐由智
- 2012年11月15日特願2013-544136
- 2012年11月15日 PCT/JP2012/007326
- 2015年8月12日日本国　特許第5761675号
- 2015年8月18日 US0110093
- 2019年9月18日 EP2781925
「電位計測装置、及び原子間力顕微鏡」、福間剛士、小林成貴
- 2012年9月12日特願2013-533501
- 2012年9月12日 PCT/JP2011/004325
- 2014年9月16日 US8839461
- 2014年8月15日日本国　特許5737640
- 2019年6月19日 EP2757380
「液中電位計測装置、及び、原子間力顕微鏡」、福間剛士、小林成貴、浅川雅
- 2011年1月29日特願2012-541707
- 2011年1月29日 PCT/JP2011/004325
- 2014年8月15日日本国　特許第5594795号
- 2014年4月8日 US8695108
「カンチレバー励振装置及び走査型プローブ顕微鏡」、淺川雅、福間剛士
- 2010年8月6日特願2011-525807
- 2010年8月6日 PCT/JP2010/004973
- 2014年8月1日日本国　特許第5585965号
- 2017年7月26日 EP2463665
- 2017年7月26日 DE60 2010 043937.2
- 2017年7月26日 TR 2463605
「走査型プローブ顕微鏡」、福間剛士、植田泰仁
- 2010年1月2日特願2010-548389
- 2010年1月14日 PCT/JP2010/000164
- 2013年７月7日日本国　特許第5283089号
- 2012年12月25日 US8341760
- 2018年1月3日 EP2392930
- 2018年1月3日 DE60 2010 047778.9
- 2018年1月3日 GB 2392930
「走査型プローブ顕微鏡」、福間剛士、三谷悠士
- 2009年7月16日特願2010-526510
- 2009年7月16日 PCT/JP2009/003365
- 2014年5月23日日本国　特許第5545214号
- 2013年2月26日 US8387159
- 2020年1月22日 European patent No. 2325657
「走査型プローブ顕微鏡用のスキャナ装置」、福間剛士、安藤敏夫、岡崎康孝
- 2009年5月29日特願2010-515753
- 2009年5月29日 PCT/JP2009/002381
- 2013年5月17日日本国　特許第5268008号
- 2012年7月10日 US8217367
- 2013年10月15日 CH701011
「高周波微小振動測定装置」、福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美
- 2006年2月3日日本国　特許第3764917号
「物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡」、福間剛士、小林圭、山田啓文、松重和美
- 2003年3月26日特願2003-085746